전자현미경(SEM)의 엣지(Edge)효과와 차징(Charging)
전자현미경(SEM)의 엣지(Edge)효과와 차징(Charging)현상 전도성이 낮은 시료의 SEM 분석 시 발생하는 이미지 왜곡 현상 전자현미경(SEM)의 이미지 왜곡 현상 개요 오늘은 SEM 분석 시 발생하는 이미지 왜곡 현상에 대해 이야기를 나눠볼까 합니다. 아마 전도성이 낮은 시료를 분석하면서 많은 분들께서 겪을 수 있는 문제 같은데요. 대표적인 현상과 발생하는 이유에 대해 소개하고,