전자현미경(SEM)의 엣지(Edge)효과와 차징(Charging)현상 전도성이 낮은 시료의 SEM 분석 시 발생하는 이미지 왜곡 현상 전자현미경(SEM)의 이미지 왜곡 현상 개요 오늘은 SEM 분석 시 발생하는 이미지 왜곡 현상에 대해 이야기를 나눠볼까 합니다. 아마 전도성이 낮은 시료를 분석하면서 많은 분들께서 겪을 수 있는 문제 같은데요. 대표적인 현상과 발생하는 이유에 대해 소개하고,

가속전압이 SEM 결과에 미치는 영향 분석 목적에 따라 SEM의 가속전압을 적절히 조절하는 것이 중요한 이유 가속전압이 SEM 결과에 미치는 영향 저희 MCC에서 SEM 분석을 해보셨다면 분석 연구원이 요청하는 분석 조건에서 가속 전압이라는 항목을 볼 수 있습니다. 오늘은 이 가속 전압이 분석 결과에 미치는 영향에 대해서 소개해

EDS 분석 결과 표를 읽어보자 EDS 분석 결과 중 Map sum spectrum table에 담겨져 있는 정보 EDS 분석 결과 해석 방법 개요 EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) 분석 결과에서 아래와 같은 표를 많이 보셨을 텐데요. 많은 정보가 들어있지만 생소하게 느껴지는 부분들이 있습니다. 이번 포스팅에서는 많은 분들께서 궁금해하셨던 표의

표면 이물질을 빠르게 검사하는 방법(EDS분석) 표면의 성분 원소를 빠르고 효율적으로 분석하는 대표적인 분석 방법 EDS를 소개합니다 EDS를 통한 표면의 이물질 확인 이번 포스팅에서는 FE-SEM 분석 중 가장 수요가 높은 EDS 분석의 구체적인 활용 방안 중 하나에 대해 소개해 보려고 합니다. EDS 분석은 현미경 이미지와 함께 구성 원소에 대한

SEM을 이용한 표면 성분분석(EDS)과 XPS 분석의 차이 대표적인 표면 원소분석 방법인 EDS와 XPS의 차이점 비교 포스팅 개요 EDS 분석과 XPS 분석은 표면의 성분 원소를 분석할 때 자주 활용하는 장비입니다. 2가지 모두 X-ray와 관련된 원리를 활용해 표면의 원소에 대해 정성분석과 정량분석이 가능하다는 점에서 유사한 점이 있습니다. 이런 유사성으로 인해서

FE-SEM, SE 분석과 BSE 분석 예시 및 차이점 활용 분야가 다른 BSE와 SE모드 분석 이미지의 차이 SE mode와 BSE 모드의 차이 SE 모드 SEM 분석 방법 중에서 가장 기본적인 모드입니다. 2차 전자를 이용해서 시료의 표면 이미지를 고해상도로 관측할 수 있어 미세 표면 구조를 확인하는 데 적합합니다. 주로 표면의

SEM의 전자빔으로 발생하는 신호의 종류(SE, BSE) FE-SEM의 주사전자(전자빔)와 시료의 상호작용으로 발생하는 다양한 신호 전자빔과 시료의 상호 작용으로 방출되는 전자 FE-SEM의 전자 총에서 출발한 전자는 시료 표면에 닿으면 표면의 원자와 상호 작용을 합니다. 이때 발생하는 신호는 각각의 검출기를 통해 다양한 결과물을 만들어 낼 수 있습니다.

FE-SEM의 주요 구조와 기능 및 작동 원리 전자를 이용해 이미지를 확인할 수 있는 첨단 기술의 집약 FE-SEM FE-SEM의 내부 구조 개략도(FE-SEM Schematic)와 기능 가시광선이 아닌 전자를 이용하는 SEM은 어떻게 시료 표면의 이미지를 보여줄 수 있을까요? 이번 포스팅에서는 FE-SEM의 작동 원리를 알아보겠습니다. 먼저 FE-SEM 장비의 주요 구조를 아래 그림에서

현미경의 종류와 FE-SEM (전계방출형 주사전자현미경) 광학 현미경(OM)부터 투과 전자 현미경(TEM) 까지 현미경의 종류와 개요 FE-SEM 이미지 예시 (MCC) 다양한 현미경(Microscopy)의 종류 현미경은 시료의 이미지를 확대하여 미세 구조를 육안으로 관찰하고 분석할 수 있도록 도와주는 장비입니다. 바이오, 반도체 등 소재뿐만 아니라 다양한 연구 및 산업 분야에서 기초